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价格：电议
采购度：147 原产地：中国大陆
发布时间：2022/8/9 14:32:24
透射电镜
Transmission Electron Microscope, 简称TEM，透射电镜可以观察样品的内部精细结构，这些结构即亚显微结构或者超微结构。透射电镜使用的是透射电子，并收集透过样品的电子，从而提供了样品的内部结构的信息，如晶体结构、形态以及应力状态的信息。目的TEM其空间分辨率达到了pm别。由于透射电子的要求，TEM的样品必须制备成超薄切片，通常为50-100 nm，样品制备比较繁琐，常用的方法有超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。
实验意义
电镜利用电子束作光源，用电磁作透镜，经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，形成明暗不同的影像，电镜在中和物理学和生物学相关的许多科学域都是重要的分析方法，如基础医学研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。
实验步骤
1.取材固定
2.包埋脱水
3.聚合/超薄切片
4.染色
5.电子显微镜下观察采图。
结果展示
实验完成周期及交付标准
1. 实验周期：5-6周
2. 交付标准：电镜图片、实验报告（实验步骤、试剂、仪器等）
实验需与客户确认的信息
1. 样本的种属
2. 样本类型，是组织还是细胞
3. 样本数量
4. 透射电镜分析要求、拍照要求或是参考文献
更新时间：2024/1/4 13:19:56
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